Digitale uitgebreide analyser voor gedeeltelijke ontlading
Productintroductie
De MEJFD-W1S-tester voor gedeeltelijke ontlading is een nieuw digitaal testinstrument voor gedeeltelijke ontlading, ontwikkeld door ons bedrijf. Het behoudt de sterke punten van eerdere modellen, terwijl het zijn afmetingen verkleint en de prestaties verder optimaliseert. De traditionele oscilloscoopbuis en fysieke knopbediening zijn vervangen door een 10,1-inch touchscreen, wat de functionaliteit, het gebruiksgemak en de betrouwbaarheid verbetert.
Dit instrument maakt gebruik van een 32-bit microcontrollercircuit met hoge-prestaties, gecombineerd met touchscreenbediening. Dit verlengt niet alleen de operationele levensduur, maar biedt ook de volgende functies: automatische kalibratie met één-touch; configureerbare hoge-spanningstestspanningsverdelingsverhouding; seriële poortcommunicatie voor het uploaden van testgegevens. Dit instrument beschikt over een hoge detectiegevoeligheid, brede toepasbaarheid op testspecimens, een breed dynamisch bereik in het versterkingssysteem, meerdere frequentiebandcombinaties (negen typen) en sterke anti-interferentiemogelijkheden. Wanneer het wordt gebruikt in combinatie met een kalibratiepulsgenerator en invoereenheid, dient het als een praktisch testinstrument voor gedeeltelijke ontlading dat op grote schaal wordt toegepast door energiebedrijven, fabrikanten en onderzoeksinstellingen.
Productparameter (specificatie)
- Het equivalente capaciteitsbereik van de testbare monsters is 6pF tot 250 µF.
- Meetbereik: 0,1 pC - 10000 nC
- Aantal kanalen: Eén kanaal
- Detectiegevoeligheid en toegestane stroom (zie Tabel 1)
|
Invoereenheid Serienummer |
Afstemcondensator bereik |
Gevoeligheid (pC) (Ongebalanceerd circuit) |
Toegestane huidige RMS-waarde |
|
|
Ongebalanceerd circuit |
Gebalanceerde schakeling |
|||
|
1 |
0-25-100pF |
0.02 |
30mA |
0.25A |
|
2 |
25-100-400pF |
0.04 |
50mA |
0.5A |
|
3 |
100-400-1500pF |
0.06 |
120mA |
1A |
|
4 |
400-1500-6000pF |
0.1 |
0.25A |
2A |
|
5 |
1500-6000-25000pF |
0.2 |
0.5A |
4A |
|
6 |
0.006-0.025-0.1μF |
0.3 |
1A |
8A |
|
7 |
0.025-0.1-0.4μF |
0.5 |
2A |
15A |
|
8 |
0.1-0.4-1.5μF |
1 |
4A |
30A |
|
9 |
0.4-1.5-6.0μF |
1.5 |
8A |
60A |
|
10 |
1.5-6.0-25μF |
2.5 |
15A |
120A |
|
11 |
6.0-25-60μF |
5 |
25A |
200A |
|
12 |
25-60-250μF |
10 |
50A |
300A |
|
7R |
weerstand |
0.5 |
2A |
15A |
Tabel 1. Detectiegevoeligheid en toegestane stroomwaarde van de ingangseenheid
|
5. Elliptische scantijdbasis |
|
|
(1) Frequentie |
50/60, 100, 150, 200, 400 Hz |
|
(2) Rotatie |
In stappen van 30 graden kan hij tot 120 graden draaien. |
|
(3) Werkwijze |
Ellips - Sinusgolf - Rechte lijn |
|
6. Weergave-eenheid |
Het maakt gebruik van een 10,1-inch capacitief touchscreen. |
|
7. Versterker |
|
|
(1) 3dB laag-eindfrequentie fL |
10, 20, 40 kHz (selecteerbaar) |
|
(2) 3dB hoge-eindfrequentie fH |
80, 200, 300 kHz selecteerbaar |
|
(3) Aanpassing van de versterking |
coarse adjustment has 6 levels with a gain difference of 20±1dB between levels; fine adjustment range is >20dB. |
|
(4) Asymmetrie van positieve en negatieve impulsrespons |
<1dB |
|
8. Tijdvenster |
|
|
(1) Raambreedte |
Instelbaar, 5 graden -170 graden bij 50 Hz |
|
(2) Raampositie |
Elk raam kan worden gedraaid van 0 graden tot 170 graden. |
|
(3) De twee tijdvensters kunnen afzonderlijk of gelijktijdig worden geopend. |
|
|
9. Weergave van de pulspiek |
|
|
Touchscreen-display |
toont 1 decimaal (groter dan of gelijk aan 10 pC) of 2 decimalen (minder dan 10 pC), met een fout van ±3% (volledige schaal). |
|
10. Weergave testspanning |
|
|
(1) Bereik |
150kV |
|
(2) Ingangsimpedantie |
>1MΩ |
|
(3) Weergave |
Touchscreen-display, weergave tot 1 cijfer achter de komma. |
|
(4) Fout |
±1% |
|
11. Weergave testfrequentie |
|
|
Fout |
minder dan ±1% |
|
12. Nul-standaardsysteem |
|
|
De nulmarkering komt overeen met alle elliptische scanfrequenties. |
|
|
13. Structuur |
|
|
(1) Afmetingen |
370 mm (breedte), 460 mm (diepte), 215 mm (hoogte) |
|
(2) Gewicht |
Ongeveer 12,5 kg |
Producteigenschap en toepassing
I. Uitstekend operationeel gemak
1. Verbeterde interactie: Beschikt over een 10,1-inch capacitief touchscreen, dat traditionele kathodestraalbuisdisplays vervangt door fysieke knoppen. De intuïtieve interface en flexibele bediening verminderen de leercurven aanzienlijk en verlengen de operationele levensduur.
2. Intelligente gemaksfuncties: Ondersteunt automatische kalibratie met één- aanraking, waardoor complexe handmatige berekeningen overbodig worden. Na het injecteren van een bekende lading via de kalibratiepulsgenerator van het type JZF-, kalibreert het instrument automatisch en geeft direct de ontladingshoeveelheid van het testmonster weer. Uitgerust met seriële communicatiefunctionaliteit, vergemakkelijkt het naadloos uploaden van testgegevens naar andere apparaten voor efficiënte archivering en analyse.
3. Flexibele parameteraanpassing: De hoog-spanningstestspanningsverdelingsverhouding is vrij configureerbaar. Belangrijke parameters zoals de elliptische scantijdbasis, versterkerbandbreedte, versterking en tijdvenster zijn allemaal instelbaar via één-aanraakbediening op het touchscreen, waardoor een efficiënte werking wordt gegarandeerd.
II. Uitstekende prestatiestatistieken
1. Hoge detectiegevoeligheid: voor testmonsters met variërende equivalente capaciteit bereikt de ongebalanceerde circuitgevoeligheid zo laag als 0,02 pC (wat overeenkomt met een afstemcapaciteitsbereik van 0–25–100 pF). De gebalanceerde circuitgevoeligheid past zich synchroon aan, waardoor nauwkeurige registratie van zwakke gedeeltelijke ontladingssignalen mogelijk is.
2. Uitgebreid meetbereik: Omvat testmonsters met een equivalente capaciteit van 6 pF tot 250 µF en ontladingsmeting van 0,1 pC tot 10.000 nC, en voldoet aan de testvereisten voor diverse elektrische apparatuur en componenten.
3. Sterk anti-interferentievermogen: Uitgerust met negen frequentiebandcombinaties, zijn de 3dB lage- frequentie-uiteinde (10, 20, 40 kHz) en hoge- frequentie-uiteinde van de versterker (80, 200, 300 kHz) vrij selecteerbaar. Gecombineerd met de tijdvensterfunctie (vensterbreedte instelbaar van 5 graden tot 170 graden, dubbele vensters kunnen onafhankelijk of gelijktijdig worden geactiveerd), wordt vaste-fase-interferentie effectief vermeden. Ondersteunt elliptische scantijdbasisrotatie (in stappen van 30 graden, tot 120 graden rotatie) om de interferentieweerstand verder te optimaliseren.
4. Betrouwbare meetnauwkeurigheid: de weergavefout van de pulspiek is slechts ±3% (op volledige schaal), de weergavefout van de testspanning is ±1% en de weergavefout van de testfrequentie is minder dan ±1%. Het nulkalibratiesysteem blijft consistent over alle elliptische scanfrequenties, waardoor nauwkeurige en betrouwbare testgegevens worden gegarandeerd.
III. Uitgebreid functioneel aanpassingsvermogen
1. Rijke scan- en weergavemogelijkheden: de elliptische scantijdbasis ondersteunt meerdere frequenties (50/60, 100, 150, 200, 400 Hz), met bedrijfsmodi die elliptische, sinusoïdale en lineaire golfvormen omvatten om tegemoet te komen aan diverse golfvormobservatievereisten in testscenario's; Het touchscreen geeft duidelijk de belangrijkste parameters weer, waaronder PD-golfvormen, PD-waarden, testspanning en testfrequentie. De aflezingen van de lozingshoeveelheid schakelen automatisch tussen 1-cijferige of 2-cijferige decimale weergave op basis van de grootte, voor een betere leesbaarheid.
2. Hoog aanpassingsvermogen van de ingangsunit: Uitgerust met ingangsunits met 12 instelbare capaciteitsbereiken en één resistieve ingangsunit, geschikt voor RMS-stroomwaarden van 30 mA tot 50 A (ongebalanceerde circuits) en 0,25 A tot 300 A (gebalanceerde circuits). Deze flexibiliteit maakt het testen van monsters met variërende capaciteit en stroomwaarden mogelijk.
3. Veelzijdige toepassingsscenario's: Bij gebruik met kalibratiepulsgeneratoren en invoereenheden is het breed toepasbaar in energiebedrijven, productiefabrieken en onderzoeksinstellingen. Het voldoet aan de testvereisten voor gedeeltelijke ontlading voor transformatoren, condensatoren, kabels en andere elektrische apparatuur en ondersteunt tests bij 50 Hz en frequenties boven 50 Hz.
IV. Praktisch structureel ontwerp
1. Compact en draagbaar: Beschikt over een standaard desktopchassis met afmetingen van 370 mm (B) × 460 mm (D) × 215 mm (H) en weegt ongeveer 12,5 kg. De kleinere footprint vergeleken met traditionele instrumenten vergemakkelijkt de mobiliteit en het testen op locatie.
2. Intuïtieve interface-indeling: het voorpaneel bevat belangrijke componenten, waaronder een touchscreen, aan/uit-schakelaar en ingangsterminals voor gedeeltelijke ontlading. Het achterpaneel is voorzien van aardingsbouten, een RS232-poort en ingangen voor externe voeding, wat zorgt voor gemakkelijke bedrading, betrouwbare aarding en verbeterde testveiligheid.
Prodectiedetails
Deze apparatuur wordt gebruikt voor het detecteren en testen van gedeeltelijke ontladingen van elektrische apparatuur, waaronder transformatoren, condensatoren en kabels, en is geschikt voor fabrikanten, onderzoeksinstellingen en energiebedrijven.
Bedrijfskwalificaties
Populaire tags: digitale uitgebreide analysator voor gedeeltelijke ontlading, China fabrikanten van digitale gedeeltelijke ontlading uitgebreide analysator, fabriek