Digitale uitgebreide analyser voor gedeeltelijke ontlading

Aanvraag sturen
Digitale uitgebreide analyser voor gedeeltelijke ontlading
Details
Ontgrendel een nieuw tijdperk van intelligente detectie! De MEJFD-W1S zorgt voor een revolutie in de interactie met een touchscreen met hoge-definitie, aangedreven door een 32-bit harde- chip. Met multi{7}}bandfiltering en onderdrukking van tijdvensterinterferentie vangt het nauwkeurig gedeeltelijke ontladingssignalen op voor efficiëntere tests en betrouwbaardere gegevens.
Productclassificatie
Digitale gedeeltelijke ontladingsdetector
Share to
Beschrijving

Digitale uitgebreide analyser voor gedeeltelijke ontlading

 

Productintroductie

 

De MEJFD-W1S-tester voor gedeeltelijke ontlading is een nieuw digitaal testinstrument voor gedeeltelijke ontlading, ontwikkeld door ons bedrijf. Het behoudt de sterke punten van eerdere modellen, terwijl het zijn afmetingen verkleint en de prestaties verder optimaliseert. De traditionele oscilloscoopbuis en fysieke knopbediening zijn vervangen door een 10,1-inch touchscreen, wat de functionaliteit, het gebruiksgemak en de betrouwbaarheid verbetert.

Dit instrument maakt gebruik van een 32-bit microcontrollercircuit met hoge-prestaties, gecombineerd met touchscreenbediening. Dit verlengt niet alleen de operationele levensduur, maar biedt ook de volgende functies: automatische kalibratie met één-touch; configureerbare hoge-spanningstestspanningsverdelingsverhouding; seriële poortcommunicatie voor het uploaden van testgegevens. Dit instrument beschikt over een hoge detectiegevoeligheid, brede toepasbaarheid op testspecimens, een breed dynamisch bereik in het versterkingssysteem, meerdere frequentiebandcombinaties (negen typen) en sterke anti-interferentiemogelijkheden. Wanneer het wordt gebruikt in combinatie met een kalibratiepulsgenerator en invoereenheid, dient het als een praktisch testinstrument voor gedeeltelijke ontlading dat op grote schaal wordt toegepast door energiebedrijven, fabrikanten en onderzoeksinstellingen.

 

Productparameter (specificatie)

 

  1. Het equivalente capaciteitsbereik van de testbare monsters is 6pF tot 250 µF.
  2. Meetbereik: 0,1 pC - 10000 nC
  3. Aantal kanalen: Eén kanaal
  4. Detectiegevoeligheid en toegestane stroom (zie Tabel 1)

Invoereenheid

Serienummer

Afstemcondensator bereik

Gevoeligheid (pC)

(Ongebalanceerd circuit)

Toegestane huidige RMS-waarde

Ongebalanceerd circuit

Gebalanceerde schakeling

1

0-25-100pF

0.02

30mA

0.25A

2

25-100-400pF

0.04

50mA

0.5A

3

100-400-1500pF

0.06

120mA

1A

4

400-1500-6000pF

0.1

0.25A

2A

5

1500-6000-25000pF

0.2

0.5A

4A

6

0.006-0.025-0.1μF

0.3

1A

8A

7

0.025-0.1-0.4μF

0.5

2A

15A

8

0.1-0.4-1.5μF

1

4A

30A

9

0.4-1.5-6.0μF

1.5

8A

60A

10

1.5-6.0-25μF

2.5

15A

120A

11

6.0-25-60μF

5

25A

200A

12

25-60-250μF

10

50A

300A

7R

weerstand

0.5

2A

15A

Tabel 1. Detectiegevoeligheid en toegestane stroomwaarde van de ingangseenheid

 

5. Elliptische scantijdbasis

(1) Frequentie

50/60, 100, 150, 200, 400 Hz

(2) Rotatie

In stappen van 30 graden kan hij tot 120 graden draaien.

(3) Werkwijze

Ellips - Sinusgolf - Rechte lijn

6. Weergave-eenheid

Het maakt gebruik van een 10,1-inch capacitief touchscreen.

7. Versterker

(1) 3dB laag-eindfrequentie fL

10, 20, 40 kHz (selecteerbaar)

(2) 3dB hoge-eindfrequentie fH

80, 200, 300 kHz selecteerbaar

(3) Aanpassing van de versterking

coarse adjustment has 6 levels with a gain difference of 20±1dB between levels; fine adjustment range is >20dB.

(4) Asymmetrie van positieve en negatieve impulsrespons

<1dB

8. Tijdvenster

(1) Raambreedte

Instelbaar, 5 graden -170 graden bij 50 Hz

(2) Raampositie

Elk raam kan worden gedraaid van 0 graden tot 170 graden.

(3) De twee tijdvensters kunnen afzonderlijk of gelijktijdig worden geopend.

9. Weergave van de pulspiek

Touchscreen-display

toont 1 decimaal (groter dan of gelijk aan 10 pC) of 2 decimalen (minder dan 10 pC), met een fout van ±3% (volledige schaal).

10. Weergave testspanning

(1) Bereik

150kV

(2) Ingangsimpedantie

>1MΩ

(3) Weergave

Touchscreen-display, weergave tot 1 cijfer achter de komma.

(4) Fout

±1%

11. Weergave testfrequentie

Fout

minder dan ±1%

12. Nul-standaardsysteem

De nulmarkering komt overeen met alle elliptische scanfrequenties.

13. Structuur

(1) Afmetingen

370 mm (breedte), 460 mm (diepte), 215 mm (hoogte)

(2) Gewicht

Ongeveer 12,5 kg

 

Producteigenschap en toepassing

 

I. Uitstekend operationeel gemak

1. Verbeterde interactie: Beschikt over een 10,1-inch capacitief touchscreen, dat traditionele kathodestraalbuisdisplays vervangt door fysieke knoppen. De intuïtieve interface en flexibele bediening verminderen de leercurven aanzienlijk en verlengen de operationele levensduur.

2. Intelligente gemaksfuncties: Ondersteunt automatische kalibratie met één- aanraking, waardoor complexe handmatige berekeningen overbodig worden. Na het injecteren van een bekende lading via de kalibratiepulsgenerator van het type JZF-, kalibreert het instrument automatisch en geeft direct de ontladingshoeveelheid van het testmonster weer. Uitgerust met seriële communicatiefunctionaliteit, vergemakkelijkt het naadloos uploaden van testgegevens naar andere apparaten voor efficiënte archivering en analyse.

3. Flexibele parameteraanpassing: De hoog-spanningstestspanningsverdelingsverhouding is vrij configureerbaar. Belangrijke parameters zoals de elliptische scantijdbasis, versterkerbandbreedte, versterking en tijdvenster zijn allemaal instelbaar via één-aanraakbediening op het touchscreen, waardoor een efficiënte werking wordt gegarandeerd.

II. Uitstekende prestatiestatistieken

1. Hoge detectiegevoeligheid: voor testmonsters met variërende equivalente capaciteit bereikt de ongebalanceerde circuitgevoeligheid zo laag als 0,02 pC (wat overeenkomt met een afstemcapaciteitsbereik van 0–25–100 pF). De gebalanceerde circuitgevoeligheid past zich synchroon aan, waardoor nauwkeurige registratie van zwakke gedeeltelijke ontladingssignalen mogelijk is.

2. Uitgebreid meetbereik: Omvat testmonsters met een equivalente capaciteit van 6 pF tot 250 µF en ontladingsmeting van 0,1 pC tot 10.000 nC, en voldoet aan de testvereisten voor diverse elektrische apparatuur en componenten.

3. Sterk anti-interferentievermogen: Uitgerust met negen frequentiebandcombinaties, zijn de 3dB lage- frequentie-uiteinde (10, 20, 40 kHz) en hoge- frequentie-uiteinde van de versterker (80, 200, 300 kHz) vrij selecteerbaar. Gecombineerd met de tijdvensterfunctie (vensterbreedte instelbaar van 5 graden tot 170 graden, dubbele vensters kunnen onafhankelijk of gelijktijdig worden geactiveerd), wordt vaste-fase-interferentie effectief vermeden. Ondersteunt elliptische scantijdbasisrotatie (in stappen van 30 graden, tot 120 graden rotatie) om de interferentieweerstand verder te optimaliseren.

4. Betrouwbare meetnauwkeurigheid: de weergavefout van de pulspiek is slechts ±3% (op volledige schaal), de weergavefout van de testspanning is ±1% en de weergavefout van de testfrequentie is minder dan ±1%. Het nulkalibratiesysteem blijft consistent over alle elliptische scanfrequenties, waardoor nauwkeurige en betrouwbare testgegevens worden gegarandeerd.

III. Uitgebreid functioneel aanpassingsvermogen

1. Rijke scan- en weergavemogelijkheden: de elliptische scantijdbasis ondersteunt meerdere frequenties (50/60, 100, 150, 200, 400 Hz), met bedrijfsmodi die elliptische, sinusoïdale en lineaire golfvormen omvatten om tegemoet te komen aan diverse golfvormobservatievereisten in testscenario's; Het touchscreen geeft duidelijk de belangrijkste parameters weer, waaronder PD-golfvormen, PD-waarden, testspanning en testfrequentie. De aflezingen van de lozingshoeveelheid schakelen automatisch tussen 1-cijferige of 2-cijferige decimale weergave op basis van de grootte, voor een betere leesbaarheid.

2. Hoog aanpassingsvermogen van de ingangsunit: Uitgerust met ingangsunits met 12 instelbare capaciteitsbereiken en één resistieve ingangsunit, geschikt voor RMS-stroomwaarden van 30 mA tot 50 A (ongebalanceerde circuits) en 0,25 A tot 300 A (gebalanceerde circuits). Deze flexibiliteit maakt het testen van monsters met variërende capaciteit en stroomwaarden mogelijk.

3. Veelzijdige toepassingsscenario's: Bij gebruik met kalibratiepulsgeneratoren en invoereenheden is het breed toepasbaar in energiebedrijven, productiefabrieken en onderzoeksinstellingen. Het voldoet aan de testvereisten voor gedeeltelijke ontlading voor transformatoren, condensatoren, kabels en andere elektrische apparatuur en ondersteunt tests bij 50 Hz en frequenties boven 50 Hz.

IV. Praktisch structureel ontwerp

1. Compact en draagbaar: Beschikt over een standaard desktopchassis met afmetingen van 370 mm (B) × 460 mm (D) × 215 mm (H) en weegt ongeveer 12,5 kg. De kleinere footprint vergeleken met traditionele instrumenten vergemakkelijkt de mobiliteit en het testen op locatie.

2. Intuïtieve interface-indeling: het voorpaneel bevat belangrijke componenten, waaronder een touchscreen, aan/uit-schakelaar en ingangsterminals voor gedeeltelijke ontlading. Het achterpaneel is voorzien van aardingsbouten, een RS232-poort en ingangen voor externe voeding, wat zorgt voor gemakkelijke bedrading, betrouwbare aarding en verbeterde testveiligheid.

 

Prodectiedetails

 

Deze apparatuur wordt gebruikt voor het detecteren en testen van gedeeltelijke ontladingen van elektrische apparatuur, waaronder transformatoren, condensatoren en kabels, en is geschikt voor fabrikanten, onderzoeksinstellingen en energiebedrijven.

 

Bedrijfskwalificaties

 

 

Veelgestelde vragen

1)Welke verbeteringen biedt de MEJFD-W1S gedeeltelijke ontladingstester tijdens gebruik vergeleken met traditionele instrumenten?

Antwoord: De MEJFD-1S gedeeltelijke ontladingstester verlaat de traditionele kathodestraalbuis met fysieke knopbedieningsmodus. Voor de bediening is een capacitief touchscreen van 10,1- inch gebruikt, wat niet alleen de interface intuïtiever en de bediening flexibeler maakt, waardoor de leercurve wordt verkort, maar ook de operationele levensduur wordt verlengd. Bovendien is het voorzien van een 32-bit microcontrollercircuit met hoge-prestaties, dat intelligente functies ondersteunt, zoals automatische kalibratie met één druk op de knop en instellingen voor de verhouding van de hoogspanningstestspanning, waardoor het bedieningsgemak aanzienlijk wordt vergroot.

2)Hoe garandeert de MEJFD-W1S gedeeltelijke ontladingstester operationele veiligheid tijdens het testen?

Antwoord: Het instrument bevat meerdere veiligheidsontwerpen: ten eerste waarschuwt het gebruikers duidelijk dat het apparaat onder hoge spanning werkt, waarbij wordt geadviseerd de handleiding zorgvuldig te lezen vóór installatie en gebruik; Ten tweede bevat het een speciale aardingsbout. Tijdens het testen moet deze bout stevig worden aangesloten op de aarddraad van de testlocatie met behulp van dikke koperdraad (of gevlochten kopertape). De aardingskortsluitplaat op de invoereenheid moet ook betrouwbaar worden geaard. Ten derde moet u na de kalibratie, maar voordat u de testspanning aanbrengt, de verbindingskabel tussen de kalibratiepulsgenerator en het testmonster loskoppelen. Dit voorkomt dat hoge spanning de kalibratiepulsgenerator beschadigt en elimineert potentiële veiligheidsrisico's.

3)Hoe kan interferentie worden onderdrukt tijdens het testen met de MEJFD-W1S gedeeltelijke ontladingstester?

Antwoord: Interferentie kan op meerdere manieren worden onderdrukt: gebruik ten eerste de ingebouwde-tijdvensterfunctie van het instrument om de vensterbreedte en -positie aan te passen, waarbij vaste- fase-interferentie wordt vermeden; Ten tweede: selecteer een geschikte versterkerbandbreedte, gebruik een smallere band of vermijd frequentiebereiken met hoge interferentie; Ten derde: gebruik gebalanceerde of brugtestcircuits om interferentie te verminderen; Ten vierde: implementeer externe beschermingsmaatregelen, zoals het opzetten van afgeschermde ruimtes, het gebruik van hoog-spanningsfilters, het installeren van afschermkappen op hoog-hoogspanningsterminals, het zorgen voor betrouwbare één- aarding van testcircuits en het uit de buurt houden van hangende metalen voorwerpen.

 

Populaire tags: digitale uitgebreide analysator voor gedeeltelijke ontlading, China fabrikanten van digitale gedeeltelijke ontlading uitgebreide analysator, fabriek

Aanvraag sturen